分析測(cè)試中心計(jì)劃邀請(qǐng)具有國(guó)內(nèi)一流TEM技術(shù)水平的專(zhuān)家來(lái)校，面向全校師生開(kāi)展TEM技術(shù)講座，為師生如何應(yīng)用TEM功能開(kāi)展科研做出指導(dǎo)。并對(duì)分析測(cè)試中心工程技術(shù)人員提供技術(shù)指導(dǎo)，解決目前TEM測(cè)試過(guò)程中存在的一些實(shí)際問(wèn)題，提高中心為全校師生提供TEM測(cè)試的技術(shù)水平。
一、講座目標(biāo)
1、學(xué)校相關(guān)師生對(duì)電子顯微方法有進(jìn)一步的了解，對(duì)如何應(yīng)用學(xué)校高端設(shè)備開(kāi)展科研有一些思考。
2、中心工程技術(shù)人員球差、掃描透射測(cè)試技術(shù)水平有進(jìn)一步的提高，能夠?yàn)閹熒峁└咚降臏y(cè)試。
3、通過(guò)技術(shù)交流能夠切實(shí)解決目前電鏡測(cè)試過(guò)程中存在的一些實(shí)際問(wèn)題。
二、題目
電子衍射原理及在材料科學(xué)中的應(yīng)用
三、報(bào)告人
蘇州納米所張錦平研究員
四、時(shí)間
2018年10月12日（周五），14:00—16:00
五、地點(diǎn)
友誼校區(qū)的研究生西館XA203
六、報(bào)告人簡(jiǎn)介
張錦平，博士生導(dǎo)師，中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所研究員，研究所測(cè)試平臺(tái)電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)室主要?jiǎng)?chuàng)建人。先后利用電子衍射、高分辨透射電子顯微術(shù)和納米束掃描透射電子顯微術(shù)對(duì)包括C, swt-C, CN，BN，GaN，TiO2，SnO2等材料的納米管/線(xiàn)、生物細(xì)胞中的量子點(diǎn)、磁性粒子、半導(dǎo)體量子點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)表征和研究；對(duì)陶瓷材料中的微疇結(jié)構(gòu)進(jìn)行了觀(guān)察，利用原位Lorentz顯微術(shù)對(duì)單疇和疇壁運(yùn)動(dòng)進(jìn)行表征。在Nature, Nano Lett, Phys. Rev. B, APL等國(guó)際高水平刊物發(fā)表了五十余篇相關(guān)論文。近期研究為在半導(dǎo)體中缺陷與孿晶現(xiàn)象、無(wú)機(jī)和生物納米材料的結(jié)構(gòu)與表征，特別是納米催化反應(yīng)中表面與界面的結(jié)構(gòu)現(xiàn)象。應(yīng)用高分辨原子和元素成像，以及納米束顯微分析對(duì)納米材料生長(zhǎng)、納米界面分析，以及納米晶體在生物細(xì)胞研究上的應(yīng)用。曾研究高溫超導(dǎo)、氧化物、III-V族半導(dǎo)體量子阱、量子點(diǎn)和量子柱等的微結(jié)構(gòu)及磁性材料的磁疇等。
七、主要內(nèi)容
1、 倒易空間與電子衍射；
2、 電子散射的動(dòng)力學(xué)與缺陷觀(guān)察的雙束方法；
3、 電子衍射方法與高階勞厄帶；
4、 位錯(cuò)觀(guān)察的雙束方法：在明場(chǎng)/暗場(chǎng)的實(shí)現(xiàn)及弱束原理
內(nèi)容簡(jiǎn)介：倒易點(diǎn)陣是晶體學(xué)中極為重要的概念，利用倒易點(diǎn)陣不僅可以簡(jiǎn)化晶體學(xué)中的某些計(jì)算問(wèn)題，并且可以形象的解釋晶體的衍射現(xiàn)象。進(jìn)一步通過(guò)實(shí)驗(yàn)案列介紹常見(jiàn)的衍射實(shí)驗(yàn)方法。簡(jiǎn)單介紹雙束系統(tǒng)的基本概念和原理，重點(diǎn)將講述其在材料科學(xué)領(lǐng)域的典型應(yīng)用，包括透射電鏡樣品的制備、微納尺度材料力學(xué)性能測(cè)試樣品的制備、材料三維成像及分析以及缺陷觀(guān)察的雙束方法等。
誠(chéng)邀全校師生參加與交流！
校分析測(cè)試中心
2018年10月10日
